型號(hào)：

TEM-APT Holder電鏡連用三維原子探針樣品桿

描述：TEM-APTHolder電鏡連用三維原子探針樣品桿TEM-APTHolder電鏡連用三維原子探針樣品桿可與原子探針、透射電鏡配套使用，有效地使原子探針和透射電鏡檢測(cè)結(jié)合在一起，使樣品的觀察和分析更加方便

廠商性質(zhì)
經(jīng)銷商
更新時(shí)間
2024-03-07
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詳細(xì)介紹

TEM-APT Holder 電鏡連用三維原子探針樣品桿

TEM-APT Holder 電鏡連用三維原子探針樣品桿可與原子探針、透射電鏡配套使用，有效地使原子探針和透射電鏡檢測(cè)結(jié)合在一起，使樣品的觀察和分析更加方便。 TEM-APT Holder 電鏡連用三維原子探針樣品桿用來(lái)夾持透射電鏡樣品放到透射電鏡下進(jìn)行觀察，可以 360°旋轉(zhuǎn)樣品，透射電鏡配套的樣品桿往往功能單一，這款樣品桿可以滿足客戶的多種的需要，適合大專院校及科研院所中與透射電鏡配套使用。進(jìn)口樣品桿往往價(jià)格不菲，本公司的樣品桿不僅功能齊全且結(jié)實(shí)耐用，價(jià)格也遠(yuǎn)低于進(jìn)口設(shè)備的價(jià)格。

產(chǎn)品型號(hào)	TEM-APT Holder 電鏡連用三維原子探針樣品桿
	1 、TEM-APT 樣品桿：三維原子探針（3DAP）和透射電鏡（TEM）是先進(jìn)的原子尺度表征手段。
主要特點(diǎn)	2、三維原子探針的結(jié)果不是“可視"的，需要通過(guò)數(shù)據(jù)重構(gòu)再現(xiàn)。透射電鏡能提供“直接可視"的實(shí)驗(yàn)結(jié)果，但是結(jié)果是二維投影的，并且很難獲得三維的單個(gè)原子尺度的成分信息?；谒鼈兏髯缘膬?yōu)勢(shì)，我們開發(fā)了 3DAP-TEM 樣品桿，可以將原子探針（APT）試樣直接加載到 TEM 樣品桿上。
產(chǎn)品結(jié)構(gòu)


	（1）在 TEM 中直接觀察 APT 試樣上是否有令人感興趣的區(qū)域，使樣品檢測(cè)工作效率增加；
	（2）通過(guò)大角度傾轉(zhuǎn)試樣，獲得不同角度試樣的形貌結(jié)構(gòu)特征，為 3DAP 數(shù)據(jù)重構(gòu)提供幫助；
產(chǎn)品作用	（3） TEM 觀察過(guò)后的試樣可以直接移到 APT 中繼續(xù)實(shí)驗(yàn)。將 APT 結(jié)果與 TEM 圖像相結(jié)合，有助于優(yōu)化重構(gòu)參數(shù)，并使 3DAP 結(jié)果更具有可信度。（4）在原子水平上獲得了樣品的組成和結(jié)構(gòu)。
產(chǎn)品性能	（1）接受錐形電化學(xué)拋光的樣品或聚焦離子束（FIB）制備的樣品柱。（2）允許 360°的圖像采集和層析圖像的重建，不會(huì)因楔子缺失而造成信息損失。（3）樣品可以很容易地從支架上取出，然后直接轉(zhuǎn)移到 APT 機(jī)上進(jìn)行進(jìn)一步表征。
	（4）兼容所有幾何形狀的極片間隙。